蝸牛紋通常會(huì)沿著電池的隱裂出現(xiàn)，因此會(huì)另隱裂看起來很顯眼。但不是所有出現(xiàn)隱裂的組件都會(huì)出現(xiàn)蝸牛紋。根據(jù)目前對(duì)該問題的了解，受影響的組件性能衰退與蝸牛紋本身關(guān)系并不大，反而是與蝸牛紋下面的隱裂關(guān)系更大。

　　

　　國外有文章指出蝸牛紋的出現(xiàn)與水汽有關(guān)，尤其是從背板透過的水汽，通過EVA膠膜后從隱裂處滲過，在電池片表面富集，造成銀漿氧化，形成黑色紋路。具體推演請(qǐng)參考如下內(nèi)容：
 

　　

　　基于以上描述，研究人員將隱裂的電池片層壓，不用背板封裝，將組件放入濕熱老化箱中，無法重現(xiàn)蝸牛紋，可見蝸牛紋的出現(xiàn)不僅僅與水汽的單方面作用有關(guān)，故而可以推斷，其與EVA的關(guān)系較大。

　　

　　蝸牛紋的出現(xiàn)是一個(gè)綜合的過程，EVA膠膜中的助劑、電池片表面銀漿構(gòu)成、電池片的隱裂以及體系中水份的催化等因素都會(huì)對(duì)蝸牛紋的形成起促進(jìn)作用，而蝸牛紋現(xiàn)象的出現(xiàn)也不是必然，而是有它偶然的引發(fā)因素，這也解釋了同一批次組件中不是所有的組件都必然出現(xiàn)的現(xiàn)象。小編也將跟進(jìn)針對(duì)蝸牛紋的進(jìn)一步研究結(jié)果。