蝸牛紋通常會沿著電池的隱裂出現(xiàn)，因此會另隱裂看起來很顯眼。但不是所有出現(xiàn)隱裂的組件都會出現(xiàn)蝸牛紋。根據(jù)目前對該問題的了解，受影響的組件性能衰退與蝸牛紋本身關(guān)系并不大，反而是與蝸牛紋下面的隱裂關(guān)系更大。
國外有文章指出蝸牛紋的出現(xiàn)與水汽有關(guān)，尤其是從背板透過的水汽，通過EVA膠膜后從隱裂處滲過，在電池片表面富集，造成銀漿氧化，形成黑色紋路。具體推演請參考如下內(nèi)容：
基于以上描述，研究人員將隱裂的電池片層壓，不用背板封裝，將組件放入濕熱老化箱中，無法重現(xiàn)蝸牛紋，可見蝸牛紋的出現(xiàn)不僅僅與水汽的單方面作用有關(guān)，故而可以推斷，其與EVA的關(guān)系較大。
蝸牛紋的出現(xiàn)是一個綜合的過程，EVA膠膜中的助劑、電池片表面銀漿構(gòu)成、電池片的隱裂以及體系中水份的催化等因素都會對蝸牛紋的形成起促進作用，而蝸牛紋現(xiàn)象的出現(xiàn)也不是必然，而是有它偶然的引發(fā)因素，這也解釋了同一批次組件中不是所有的組件都必然出現(xiàn)的現(xiàn)象。小編也將跟進針對蝸牛紋的進一步研究結(jié)果。
